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基体及不均匀效应是造成手持式光谱仪X射线强度高低的根本原因

发布时间:2022-02-21      点击次数:146
   国产手持式光谱仪的定量分析是以荧光X射线的强度为依据的,所以X射线的强度高低将直接影响光谱仪的分析准确度,造成手持式光谱仪X射线的强度高低的原因大致可分为2大类型:

  1、基体效应
  基体效应有吸收效应和增强效应的吸收效应,基体对入射x射线的吸收和荧光x射线的吸收。这是因为用放射线激励试样时,不仅作用于试样表面,还可以透过一定的厚度进入试样内部。另外,试样内部的分析元素产生的荧光x射线也必须透过一定厚度的试样才能射出。在透射过程中,这两种x射线均会因基体元素的吸收而导致辐射强度减弱,辐射减弱会影响对分析元素的激发效率。
  当入射x射线激发基质元素产生的荧光x射线波长略短于分析元素吸收端时,分析元素产生二次荧光x射线,分析元素的荧光x射线强度增强。这就是基质的增强效果。
  吸收效应占主导地位时分析结果较低,增强效应占主导地位时分析结果较高。
  2、不均匀效应
  不均匀效应是指样品颗粒大小不均匀,样品表面光泽度对荧光x射线强度的影响。在粉末样品中,大粒子的吸收效果强,小粒子的吸收效果弱,因此为了降低x射线的吸收,要求尽量减小粒子的粒度。测量短波x射线时,粒度要求250目以上,测量波长大于0.2nm的长波x射线时,粒度要求400目以上。
  固体试样必须研磨,粉末试样必须压实使表面平滑。表面粗糙会明显降低荧光x射线的强度。测量短波x射线时,光泽度为1005m左右,测量长波x射线时,光泽度为20-50Mm。

国产手持式光谱仪

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